成果信息
CT技術(shù)最大的優(yōu)勢(shì)在于:可以無(wú)損地對(duì)產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)尺寸進(jìn)行測(cè)量,;可以在一次掃描下同時(shí)完成產(chǎn)品尺寸檢測(cè)與材料質(zhì)量控制,。這使得CT在傳統(tǒng)工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域建立了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),,傳統(tǒng)接觸式或光學(xué)CMM設(shè)備難以測(cè)量的裝配件及具有復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的零件內(nèi)部結(jié)構(gòu),使用CT技術(shù)可以獲得理想的解決方案,。特別是在服役狀態(tài)下裝配件(像引信等)的質(zhì)量檢測(cè)上,,使用CT技術(shù)有效的避免了裝配前后由于零部件結(jié)構(gòu)及尺寸發(fā)生變化而導(dǎo)致的產(chǎn)品失效等。顯微CT,,將CT技術(shù)的檢測(cè)精度往前推進(jìn)了一大步,,它的測(cè)量精度可以達(dá)到亞微米級(jí)。傳統(tǒng)的激光測(cè)量,,采用激光波長(zhǎng)幾百個(gè)納米,,測(cè)量精度不可能小于波長(zhǎng)。這意味著顯微CT在提供不亞于激光測(cè)量的精度的同時(shí),,還可以測(cè)量?jī)?nèi)部結(jié)構(gòu)的尺寸,。工業(yè)CT成像原理是,射線源產(chǎn)生的X射線穿透被檢樣品時(shí)發(fā)生衰減,,衰減量由透照樣品厚度及組分決定,,衰減后射線入射到探測(cè)器,形成二維灰度圖像,。大量不同角度的二維投影圖像,,經(jīng)過(guò)重建后生成斷層圖像,。該項(xiàng)目采用幾何放大的方法得到CT圖像,提高成像精度,。該CT系統(tǒng)的精度主要和射線源的焦點(diǎn)大小有關(guān),,擬采用納米焦點(diǎn)X光機(jī)作為射線源。)
背景介紹
CT技術(shù)自誕生起就被廣泛應(yīng)用在醫(yī)療診斷與材料檢測(cè)領(lǐng)域,,隨著CT技術(shù)進(jìn)步及精度提高,,CT技術(shù)開始廣泛應(yīng)用于工業(yè)產(chǎn)品尺寸測(cè)量,內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析,。)
應(yīng)用前景
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