成果信息
磁盤缺陷檢測分析儀通過提高磁頭以及放大電路的靈敏度,，發(fā)現(xiàn)納米級的微小磁盤缺陷,，對發(fā)現(xiàn)的缺陷進行精確定位,，杜絕缺陷的遺失。還能使用光學和原子力顯微鏡對缺陷類型進行高效和深入的分析,，最后通過軟件系統(tǒng)輸出詳細的分析報告,。)
背景介紹
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應用前景
主辦單位： 郴州市科學技術局
技術支持： 長沙諾為信息技術有限公司
郴州市科學技術局版權所有 ICP備案號： 湘ICP備10209074號-33
公安備案號 ： 43110302000213
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43110302000213
