成果信息
成果提出了針對單幅無載波牛頓環(huán)干涉條紋的分析技術,,可對球面元件進行干涉測量,獲取球面曲率半徑和頂點位置,,也可以用于測量介質(zhì)折射率和光源波長,。相關技術于2013年提出,利用現(xiàn)代信號,、數(shù)據(jù)處理方法,,從一個新的角度解釋了牛頓環(huán)現(xiàn)象的本質(zhì),直接可以通過單幅牛頓環(huán)條紋圖即可提取出被測球面曲率半徑,、頂點位置(牛頓環(huán)環(huán)心),。相關技術在國內(nèi)外均為首創(chuàng),經(jīng)過8年的開發(fā)和改進,,在科研和教學領域各開發(fā)了一個原理樣機,,具有很好的精度和很低的耗時的特點。相較其他技術而言,,技術手段非常簡潔,,無需昂貴的光學硬件(移相器、載波調(diào)制),,具有更高的抗干擾和抗噪聲能力,,在低分辨成像和局部條紋中仍然可以獲得高精度測量結果(其它同類方法失效)??梢酝茝V到任何球面干涉測量領域,,測量對象可以使任何球面元器件(眼睛、光纖連接器,、天文望遠鏡等),,也可以用于折射率和波長測量領域,是一個應用面很廣的基礎技術,。)
背景介紹
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應用前景
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