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成果信息

一種利用溫度擾動(dòng)法測(cè)量固體材料高溫連續(xù)光譜發(fā)射率的方法,，涉及一種測(cè)量固體材料光譜發(fā)射率的方法,。本發(fā)明是要解決現(xiàn)有的測(cè)量材料光譜發(fā)射率的方法需要設(shè)置參考黑體，且高溫下試件溫度不均勻,、誤差大,，光路系統(tǒng)復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題。本發(fā)明將樣品放入高溫爐中,，啟動(dòng)高溫爐和加熱片均加熱至溫度為T,，測(cè)得輻射能量,；保持高溫爐的加熱溫度為T，將加熱片的溫度升高至T,，測(cè)得輻射能量,；保持加熱片的加熱溫度為T，同時(shí)將高溫爐的溫度升高至T,，測(cè)得輻射能量,，光譜發(fā)射率本發(fā)明不必設(shè)置參考黑體，試件溫度均勻,、誤差小,、沒(méi)有復(fù)雜的光路系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了1000K~2000K高溫條件下固體材料連續(xù)光譜發(fā)射率的精確測(cè)量,。 )

背景介紹

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應(yīng)用前景

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